Ljósvökvi: Sprungur í einingum, heitir blettir og PID áhrif eru þrír mikilvægir þættir sem hafa áhrif á frammistöðu kristallaðra kísilljóseinda. Í dag mun ég sýna þér ástæðurnar fyrir frumusprungum, hvernig á að bera kennsl á og koma í veg fyrir þær.
1. Myndun og flokkun sprungna í ljósvakaeiningum
Cracks are a relatively common defect in crystalline silicon photovoltaic modules. In layman's terms, they are micro-cracks that are invisible to the naked eye. Due to the characteristics of its own crystal structure, crystalline silicon components are very prone to cracking. In the process flow of crystalline silicon module production, many links may cause cell cracks. The root cause of cracks
Ytri kraftur: Rafhlaðan verður fyrir áhrifum af utanaðkomandi krafti við suðu, lagskiptingu, ramma eða meðhöndlun, prófun osfrv. Þegar færibreytur eru rangt stilltar, mun búnaður bilun eða óviðeigandi notkun valda sprungum.
Hár hiti: Hólfið er ekki forhitað við lágt hitastig og lendir svo skyndilega í háum hita á stuttum tíma og stækkar síðan, sem veldur sprungum, svo sem of háum suðuhita, óeðlilegri stillingu á lagskiptu hitastigi og öðrum breytum.
Hráefni: Hráefnisgallar eru einnig einn helsti þátturinn sem leiðir til sprungna.
Samkvæmt lögun frumusprungunnar má gróflega skipta henni í 5 gerðir: trjásprungu, alhliða sprungu, skásprungu, samsíða samskeyti, hornrétt á rist og sprungur sem fara í gegnum alla frumuna.
2. The impact of "cracking" on component performance
Straumurinn sem myndast af kristalluðum kísilsólfrumum er aðallega safnað og fluttur út með straumlínum og þunnum ristlínum þar sem yfirborð þeirra eru hornrétt hvert á annað. Þess vegna, þegar sprungur (aðallega sprungur samsíða rúllunum) valda því að þunnt ristlínur brotna, mun straumurinn ekki skila sér í raun til straumsins, sem leiðir til bilunar að hluta til eða jafnvel, og getur einnig valdið rusli, heitum blettum osfrv. ., á sama tíma valda afldempun íhlutanna.
Third, the method of identifying "cracks"
EL (Electroluminescence, electroluminescence) er eins konar innri gallaskynjunarbúnaður sólarsellna eða íhluta, sem er einföld og áhrifarík aðferð til að greina sprungur. Með því að nota rafljómunarregluna um kristallaðan sílikon er nær-innrauð mynd af íhlutnum tekin af innrauðri myndavél með hár-upplausn til að fá fram og ákvarða galla íhlutans. Það hefur kosti mikillar næmni, hröðum greiningarhraða og leiðandi niðurstöðum. Myndin hér að neðan er prófunarniðurstaða EL sem sýnir greinilega ýmsa galla og sprungur.
Fourth, the reasons for the formation of "cracks"
There are many factors that cause module cracks, and there are many types of cracks, but not all cracks will affect the cells, not to mention "hidden" discoloration, as long as scientific prevention can properly prevent the modules from cracking. During the production process, improper external force intervention should be avoided for the cells, and attention should be paid to the temperature range of the storage environment. During the welding process, the battery should be kept warm in advance (hand welding). The temperature of the soldering iron should meet the requirements. In the process of module production, transportation, installation and maintenance, considering the cracking characteristics of crystalline silicon modules, it is necessary to pay attention to and improve the operation process in each process of installing the power station to minimize the occurrence of module cracks.
Fimm, aðalatriðin til að koma í veg fyrir sprungur í ljósvakaeiningum
Í framleiðsluferlinu og síðari geymslu, flutningi og uppsetningu, forðastu óviðeigandi inngrip utanaðkomandi krafts á rafhlöðufrumurnar og gaum einnig að hitabreytingarsviði geymsluumhverfisins.